عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .65 .B44 1996
TK
7874
.
65
.
B44
1996
کتابخانه
محل استقرار
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
115634
شماره استاندارد
122170
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
تا‌بستا‌ن۷۷
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
نام عام مواد
)50-91(
نام نخستين پديدآور
Beenker, F. P. M.)Frans P. M.(
عنوان اصلي
Testability concepts for digital ICs : the macro test approach
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Dordrecht
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
1995
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
ix, 212 p. : ill. ; 25 cm
فروست
عنوان فروست
Frontiers in electronic testing
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Digital integrated circuits-- Testing
عنصر شناسه ای
، Automatic checkout equipment
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
65
.
B44
1996
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU .G .R ,sttenneB
عنصر شناسه اي
AU .P .A ,nessjihT
عنصر شناسه اي
TI
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
129
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
05
