عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .65 .B44 1996
TK
7874
.
65
.
B44
1996
کتابخانه
محل استقرار
115634
122170
تابستان۷۷
English
)50-91(
Beenker, F. P. M.)Frans P. M.(
Testability concepts for digital ICs : the macro test approach
Dordrecht
Kluwer Academic Publishers
1995
ix, 212 p. : ill. ; 25 cm
Frontiers in electronic testing
Includes bibliographical references
، Digital integrated circuits-- Testing
، Automatic checkout equipment
TK
7874
.
65
.
B44
1996
AU
by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen
AU .G .R ,sttenneB
AU .P .A ,nessjihT
TI
129
05
