Secondary ion mass spectrometry SIMS II; Proceeding of the second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry )SIMS II( Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer-Verlag
تاریخ نشرو بخش و غیره
1979
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xiii, 269p
فروست
ساير اطلاعات عنواني
Springer series in chemical physics; v.9
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
editors, A.Benninghoven... ]et.al[
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Congresses ، Mass spectrometry
رده بندی کنگره
شماره رده
QD
450
.
S65
v
.
9
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Benninghoven, A
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
نام تنالگان به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 2d, Stanford University, 1979