1. A user's guide to ellipsometry
المؤلف: Tompkins, Harland G
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Ellipsometry,Case studies ، Ellipsometry
رده :
QC
443
.
T65
1993


2. A user's guide to ellipsometry /
المؤلف: Harland G. Tompkins
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry, Case studies,Ellipsometry.
رده :
QC443
.
T65
1993


3. Ellipsometry and polarized light
المؤلف: Azzam, R. M. A.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Ellipsometry,، Polarization )Light(
رده :
QC
443
.
A96


4. Ellipsometry and polarized light /
المؤلف: R.M.A. Azzam and N.M. Bashara.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry.,Polarization (Light),Ellipsométrie.,Polarisation (Lumière),Ellipsometrie,Ellipsometrie.,Ellipsometry.,Ellipsometry.,Polarisatie.,Polarization (Light),Polarization (Light)
رده :
QC443
.
A96


5. Ellipsometry and polarized light
المؤلف: / R.M.A.azzam, N.M.bashara
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Ellipsometry,Polarization (Light)
رده :
QC443
A96
1977


6. Ellipsometry for industrial applications
المؤلف: Karl Riedling
المکتبة: (کرمان)
موضوع: Ellipsometry
رده :
QC
443
.
R5
,
E5


7. Ellipsometry for industrial applications
المؤلف: Karl Riedling
المکتبة: (کرمان)
موضوع: Ellipsometry
رده :
QC
443
.
R5
,
E5


8. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
المؤلف: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Ellipsometry,، Physics,، Surface and Interface Science, Thin Films,، Surfaces and Interfaces, Thin Films,، Physical Chemistry,، Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,، Characterization and Evaluation of Materials
رده :
QC443


9. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
المؤلف: / Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Ellipsometry,Physics,Surface and Interface Science, Thin Films,Surfaces and Interfaces, Thin Films,Physical Chemistry,Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,Characterization and Evaluation of Materials
رده :
E-BOOK

10. Ellipsometry of functional organic surfaces and films /
المؤلف: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn editors.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry.,Surfaces (Technology),Condensed matter physics (liquid state & solid state physics),Ellipsometry.,Laser technology & holography.,Materials science.,Physical chemistry.,SCIENCE-- Physics-- Optics & Light.,Surfaces (Technology),Testing of materials.
رده :
QC443


11. Handbook of ellipsometry
المؤلف: edited by Harland G. Tompkins and
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Ellipsometry
رده :
QC
443
.
H26
2005


12. Handbook of ellipsometry /
المؤلف: edited by Harland G. Tompkins and Eugene A. Irene
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry
رده :
QC443
.
H26
2005


13. Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Ellipsometry. ; Layer structure (Solids) ;

14. Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures
المؤلف: / Mathias Schubert
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Ellipsometry.,Layer structure (Solids)
رده :
QC1
,.
S797
,
vol
.,
20


15. Spectroscopic ellipsometry
المؤلف: / Hiroyuki Fujiwara
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Ellipsometry,Spectrum analysis,Materials - Optical properties
رده :
QC443
.
F85
2007


16. Spectroscopic ellipsometry for photovoltaics.
المؤلف: Hiroyuki Fujiwara, Robert W. Collins, editors.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry.,Photovoltaic power generation.,Ellipsometry.,Photovoltaic power generation.
رده :
QC443


17. Spectroscopic ellipsometry: principles and applications
المؤلف: Fujiwara, Hiroyuki
المکتبة: (سمنان)
موضوع: ، Ellipsometry,، Spectrum analysis,Optical properties ، Materials
رده :
QC
443
.
F85
2007

