1. A user's guide to ellipsometry
پدیدآورنده : Tompkins, Harland G
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ، Ellipsometry,Case studies ، Ellipsometry
رده :
QC
443
.
T65
1993
2. A user's guide to ellipsometry /
پدیدآورنده : Harland G. Tompkins
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Ellipsometry, Case studies,Ellipsometry.
رده :
QC443
.
T65
1993
3. Ellipsometry and polarized light
پدیدآورنده : Azzam, R. M. A.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : ، Ellipsometry,، Polarization )Light(
رده :
QC
443
.
A96
4. Ellipsometry and polarized light /
پدیدآورنده : R.M.A. Azzam and N.M. Bashara.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Ellipsometry.,Polarization (Light),Ellipsométrie.,Polarisation (Lumière),Ellipsometrie,Ellipsometrie.,Ellipsometry.,Ellipsometry.,Polarisatie.,Polarization (Light),Polarization (Light)
رده :
QC443
.
A96
5. Ellipsometry and polarized light
پدیدآورنده : / R.M.A.azzam, N.M.bashara
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Ellipsometry,Polarization (Light)
رده :
QC443
A96
1977
6. Ellipsometry for industrial applications
پدیدآورنده : Karl Riedling
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : Ellipsometry
رده :
QC
443
.
R5
,
E5
7. Ellipsometry for industrial applications
پدیدآورنده : Karl Riedling
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : Ellipsometry
رده :
QC
443
.
R5
,
E5
8. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
پدیدآورنده : Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع : ، Ellipsometry,، Physics,، Surface and Interface Science, Thin Films,، Surfaces and Interfaces, Thin Films,، Physical Chemistry,، Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,، Characterization and Evaluation of Materials
رده :
QC443
9. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
پدیدآورنده : / Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Ellipsometry,Physics,Surface and Interface Science, Thin Films,Surfaces and Interfaces, Thin Films,Physical Chemistry,Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,Characterization and Evaluation of Materials
رده :
E-BOOK
10. Ellipsometry of functional organic surfaces and films /
پدیدآورنده : Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn editors.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Ellipsometry.,Surfaces (Technology),Condensed matter physics (liquid state & solid state physics),Ellipsometry.,Laser technology & holography.,Materials science.,Physical chemistry.,SCIENCE-- Physics-- Optics & Light.,Surfaces (Technology),Testing of materials.
رده :
QC443
11. Handbook of ellipsometry
پدیدآورنده : edited by Harland G. Tompkins and
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : ، Ellipsometry
رده :
QC
443
.
H26
2005
12. Handbook of ellipsometry /
پدیدآورنده : edited by Harland G. Tompkins and Eugene A. Irene
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Ellipsometry
رده :
QC443
.
H26
2005
13. Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Ellipsometry. ; Layer structure (Solids) ;
14. Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures
پدیدآورنده : / Mathias Schubert
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Ellipsometry.,Layer structure (Solids)
رده :
QC1
,.
S797
,
vol
.,
20
15. Spectroscopic ellipsometry
پدیدآورنده : / Hiroyuki Fujiwara
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Ellipsometry,Spectrum analysis,Materials - Optical properties
رده :
QC443
.
F85
2007
16. Spectroscopic ellipsometry for photovoltaics.
پدیدآورنده : Hiroyuki Fujiwara, Robert W. Collins, editors.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Ellipsometry.,Photovoltaic power generation.,Ellipsometry.,Photovoltaic power generation.
رده :
QC443
17. Spectroscopic ellipsometry: principles and applications
پدیدآورنده : Fujiwara, Hiroyuki
کتابخانه: (سمنان)
موضوع : ، Ellipsometry,، Spectrum analysis,Optical properties ، Materials
رده :
QC
443
.
F85
2007
18. Spectroscopic ellipsometry. principles and applications
پدیدآورنده : Fujiwara, Hiroyuki.
موضوع : ، Ellipsometry,، Spectrum analysis,، Materials- Optical properties
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
19. سنتز کامپوزیت های پلیمرهای رسانا فلز و تعیین خواص نوری آنها
پدیدآورنده : /فائزه مجیدی
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Conductive Polymers,Conductive Polymer - Metal Composites,Optical Properties,Ellipsometry,Polyaniline,Silver nanoparticles
