1. A user's guide to ellipsometry
المؤلف: Tompkins, Harland G
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Ellipsometry,Case studies ، Ellipsometry
رده :
QC
443
.
T65
1993
2. A user's guide to ellipsometry /
المؤلف: Harland G. Tompkins
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry, Case studies,Ellipsometry.
رده :
QC443
.
T65
1993
3. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3
المؤلف: edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Microscòpia d'escombratge per efecte túnel.,Microscòpia electrònica de rastreig.,Microscòpia electrònica d'escombratge.
رده :
QH212
.
A78
E358
2002
4. Chemistry and physics of solid surfaces iv.
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع:
5. Chipless RFID sensors /
المؤلف: Nemai Chandra Karmakar, Emran Md Amin, Jhantu Kumar Saha
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Radio frequency identification systems.
رده :
TK6570
.
I34
K373
2016
6. ELLIPSOMETRY AND POLARIZED LIGHT
المؤلف: N. M. BASHARA
المکتبة: كتابخانه مركزي دانشكده نفت اهواز (خوزستان)
موضوع:
رده :
QC
,.
443
,
A96
7. Electrochemical and Optical Techniques for the Study and Monitoring of Metallic Corrosion.
المؤلف: Mário G S Ferreira
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Corrosion and anti-corrosives -- Testing -- Congresses.,Electrolytic corrosion -- Testing -- Congresses.
8. Electrochemistry in Transition
المؤلف: edited by Oliver J. Murphy, Supramaniam Srinivasan, Brian E. Conway.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Chemistry, Physical organic.,Chemistry.,Surfaces (Physics).
9. Ellipsometry and polarized light
المؤلف: Azzam, R. M. A.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Ellipsometry,، Polarization )Light(
رده :
QC
443
.
A96
10. Ellipsometry and polarized light /
المؤلف: R.M.A. Azzam and N.M. Bashara.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry.,Polarization (Light),Ellipsométrie.,Polarisation (Lumière),Ellipsometrie,Ellipsometrie.,Ellipsometry.,Ellipsometry.,Polarisatie.,Polarization (Light),Polarization (Light)
رده :
QC443
.
A96
11. Ellipsometry and polarized light
المؤلف: / R.M.A.azzam, N.M.bashara
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Ellipsometry,Polarization (Light)
رده :
QC443
A96
1977
12. Ellipsometry at the Nanoscale
المؤلف: / Maria Losurdo, Kurt Hingerl
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: INSTRUMENTATION& TESTING|INSTRUMENTS &ENGINEERING, CIVIL|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION
رده :
E-BOOK
13. Ellipsometry for industrial applications
المؤلف: Karl Riedling
المکتبة: (کرمان)
موضوع: Ellipsometry
رده :
QC
443
.
R5
,
E5
14. Ellipsometry for industrial applications
المؤلف: Karl Riedling
المکتبة: (کرمان)
موضوع: Ellipsometry
رده :
QC
443
.
R5
,
E5
15. Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
المؤلف: / Jochen Eichhorn-Karsten Hinrichs, Klaus
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: FILMS& TESTING|MATERIALS SCIENCE, COATINGS & ELECTRONIC|MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION &ENGINEERING, ELECTRICAL
رده :
E-BOOK
16. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
المؤلف: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Ellipsometry,، Physics,، Surface and Interface Science, Thin Films,، Surfaces and Interfaces, Thin Films,، Physical Chemistry,، Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,، Characterization and Evaluation of Materials
رده :
QC443
17. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
المؤلف: / Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Ellipsometry,Physics,Surface and Interface Science, Thin Films,Surfaces and Interfaces, Thin Films,Physical Chemistry,Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,Characterization and Evaluation of Materials
رده :
E-BOOK
18. Ellipsometry of functional organic surfaces and films /
المؤلف: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn editors.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Ellipsometry.,Surfaces (Technology),Condensed matter physics (liquid state & solid state physics),Ellipsometry.,Laser technology & holography.,Materials science.,Physical chemistry.,SCIENCE-- Physics-- Optics & Light.,Surfaces (Technology),Testing of materials.
رده :
QC443
19. Epioptics :
المؤلف: J.F. McGilp, D. Weaire, C.H. Patterson, eds.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Semiconductors -- Junctions -- Optical properties.,Semiconductors -- Surfaces -- Optical properties.,Surfaces (Physics) -- Optical properties.
رده :
QC611
.
6
.
S9
J463
1995
20. Film formation in waterborne coatings :
المؤلف: Theodore Provder, editor, Mitchell A. Winnik, editor, Marek W. Urban, editor
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Emulsion paint, Congresses,Peinture-émulsion - Congrès
رده :
TP934
.
F465
1996
