عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدید آورنده
/ D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
موضوع
Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده
TK7874
.
58
.
B69
2006
کتابخانه
المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تماس با کتابخانه :
04133443834
0849339286
IR
E-9713
انگلیسی
IR
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
[Book]
/ D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
Boca Raton
: CRC/Taylor & Francis
, 2006.
279 p.
: ill.
; 25 cm.
Electronic
Includes bibliographical references and index.
Semiconductors--Design and construction--Quality control
Integrated circuits--Measurement
Semiconductor wafers--Inspection
X-rays--Diffraction
Fluroscopy
TK7874
.
58
.
B69
2006
Bowen, D. Keit, 1940
Tanner, B. K
ایران
X-ray metrology in semiconductor manufacturing D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
عادی
عادی
E-9713.pdf
10984808
مختارزاده
0849339286-M.jpg
متن
0
E-9713
انگلیسی
old catalog
e
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح