عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
High resolution X-ray diffractometry and topography
پدید آورنده
/ D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
موضوع
X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals
رده
QD945
.
B683
1998
کتابخانه
كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران
محل استقرار
استان:
مازندران
ـ شهر:
بابلسر
تماس با کتابخانه :
62
-
35302861
-
011
(V.1)
0850667585
22801
eng
High resolution X-ray diffractometry and topography
/ D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
London
: Taylor.
x, 252 p.
: ill
Language: انگلیسی
Print
Includes bibliographical references and index
X-ray crystallography.
X-rays- Diffraction.
Crystals
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940-
Tanner, B. K.(Brian Keith)
old catalog
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح