عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TS 156 .2 .O652
TS
156
.
2
.
O652
کتابخانه
محل استقرار
Optical inspection of microsystems
Boca Raton, FL
CRC/Taylor & Francis
c2007
503 p., ]8[ p. of plates : ill. )some col.(
Optical science and engineering
109
Includes bibliographical references and index
edited by Wolfgang Osten
Optical methods ، Quality control
Industrial applications ، Optical detectors
، Microelectronics
TS
156
.
2
.
O652
TI
AU Osten, Wolfgang
