عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation
پدید آورنده
موضوع
، Integrated circuits- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Reliability- Congresses,، Non- destructive testing- Congresses
رده
کتابخانه
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
9
-
88079401
-
021
7086
Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation
Park Ridge, N.J., U.S.A.
Noyes Data Corp.
c1988
xii, 128 p. :ill. ;27 cm
"The Electronics Reliability and Measurement Technology Workshop was held in June 1986 at NASA Langley Research Center"- - P. vii
Includes bibliographies and index.
، Integrated circuits- Testing- Congresses
، Integrated circuits- Reliability- Congresses
، Non- destructive testing- Congresses
621
.
381/028/7
TK
7874
.
E486
1988
TI
edited by Joseph S. Heyman
AU .S hpesoJ ,namyeH
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح