عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدید آورنده
Bowen, D. Keith )David Keith(
موضوع
، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy
رده
TK
7874
.
58
.
B69
2006
کتابخانه
كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
66005817
-
021
141649
زمستان۵۸
English
)50(
Bowen, D. Keith )David Keith(
0491-
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Boca Raton
CRC/Taylor & Francis
2006
279 p.: ill.; 25 cm.
Includes bibliographical references and index
، Semiconductors-- Design and construction Quality control
، Integrated circuits-- Measurement
، Semiconductor wafers-- Inspection
، X-rays-- Diffraction
، Fluroscopy
TK
7874
.
58
.
B69
2006
AU
D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
AU (htieK nairB).K .B ,rennaT
TI
05
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح