عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Thermal testing of integrated circuits
پدید آورنده
Altet, Josep
موضوع
، Integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Thermal properties,، Temperature measurements
رده
TK
7874
.
A44
2002
کتابخانه
كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
66005817
-
021
139849
بهار۵۸
English
)50(
Altet, Josep
Thermal testing of integrated circuits
Boston
Kluwer Academic Publishers
2002
xiv, 204 p.: ill.; 25 cm
Includes bibliographical references and index
، Integrated circuits-- Testing
، Integrated circuits-- Thermal properties
، Temperature measurements
TK
7874
.
A44
2002
AU
by Josep Altet and Antonio Rubio
AU oinotnA ,oibuR 1954-
TI
05
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح