1. Barron's how to prepare for the TOEFL iBT: test of Eglish as a foreign language Internet-based test
پدیدآورنده : / Pamela J. Sharpe.,Title on cover:Barron's Toefl iBT internet-Based test 2006-2007.
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه بین المللی امام رضا علیه السلام (خراسان رضوی)
موضوع : English language--Textbooks for foreign speakers.,Test of English as a Foreign Language--Study guides.,English language--Examinations--Study guides
رده :
PE1128
.
S53
2006
2. Centrifugal pumps
پدیدآورنده : by American Society of Mechanical Engineers, Performance Test Codes committee
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Centrifugal pumps Testing, Centrifugal pumps Standards
رده :
TJ
145
.
A43
1991
PTC8
.
2
3. Check Your Vocabulary for English for the TOEFL Test
پدیدآورنده : Chek Your Vocabulary for English for the TOEFL Test
کتابخانه: كتابخانه مركز آموزش عالی ثامن الحجج (ع) (خراسان رضوی)
موضوع :
رده :
423
1382
4. Cracking the TOEFL iBT
پدیدآورنده : / the Princeton Review,Variant Title: Cracking the Test of English as a Foreign Language internet based test.
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه بین المللی امام رضا علیه السلام (خراسان رضوی)
موضوع : Test of English as a Foreign Language--Study guides--Periodicals,English language--Textbooks for foreign speakers--Periodicals,English language--Examinations--Study guides--Periodicals
رده :
PE1128
.
C74
5. Creep and fatigue in elevated temperature applications. international conference
پدیدآورنده : sponsored by the Institution of Mechanical Engineers, American Society of Mechanical Engineers, American Society for Testing Materials, Philadelphia, 32-72 September 3791, Sheffield, 1-5 April 4791
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Materials- Creep Congresses,، Materials- Fatigue Congresses,، Materials at high temperatures Congresses
رده :
TA
418
.
22
.
C7
6. Diesel Engines(Test H2)
پدیدآورنده : original title: top of the title: Transit Bus Technician Test.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Diesel Motor
رده :
TJ795
.
D
5
2006
7. Eleven short stories
پدیدآورنده : by Steven J Matthiesen,Test of English as a foreign language
کتابخانه: كتابخانه عمومی آیت الله نجفی قوچانی (خراسان رضوی)
موضوع : English language - Text books for foreign speakers Vocabulary - Examinations - study guides
رده :
428
0076
M443E
8. English for the students of accounting
پدیدآورنده : / Abdolreza Talaneh," English for the students of Accounting: including translation techniques, Dictionary and test exams" Cover.
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه بین المللی امام رضا علیه السلام (خراسان رضوی)
موضوع : Readers - Accounting,English language - Study and teaching
رده :
PE1127
.
A3T3
1391
9. Essential words for the TOEFL
پدیدآورنده : Steven J Matthiesen,test of English as a foreign language
کتابخانه: كتابخانه عمومی علامه طباطبایی شهرضا (اصفهان)
موضوع : Vocabulary - Examinations - study guides English language - Examinations - Study guides English language - Text books for foreign speakers
رده :
428
0076-
م
116
10. Essential words for the TOEFL
پدیدآورنده : / Steven J. Matthiesen,Variant Title: Barron's essential words for the TOEFL: Test of English as a foreign language.
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه بین المللی امام رضا علیه السلام (خراسان رضوی)
موضوع : English language - Textbooks for foreign speakers,English language - Examinations - study guides,Vocabulary - Examinations - study guides
رده :
PE1128
.
M35
2007
11. GMAT exam prep
پدیدآورنده : Steven W. Dulan and the Faculty of Advantage Education.Graduate Management Admission Test exam prep
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد شهید مطهری دانشگاه ولی عصر(عج) (کرمان)
موضوع : Graduate Management Admission Test,Management
رده :
HF
1118
.
D85
2007
12. GRE Graduat Record Examination
پدیدآورنده : / by the staff of Kaplan Test Prep and Admissions
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه علامه طباطبایی (تهران)
موضوع :
رده :
LB2367
,.
4
،.
G67
2013
13. GRE exam
پدیدآورنده : / by the staff of Kaplan Test and Admissions,At head of title: Kaplan.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Graduate Record Examination- Study guides- Periodicals,Educational tests and measurements- Periodicals
رده :
LB2367
.
4
.
G725
2006
14. GRE exam
پدیدآورنده : the staff of Kaplan Test Prep and Admissions
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه شهركرد (چهار محال و بختیاری)
موضوع : Graduate Record Examination Study guides,Universities and colleges United States- Graduate work- Admission,Universities and colleges United States- Graduate work- Entrance examinations Study guides
رده :
{
1648
},
4f91aa6554ce579660703df1983498c3
15. GRE exam: comprehensive program
پدیدآورنده : By the staffe of kaplan test prep and admissions
کتابخانه: کتابخانه دانشکده کارآفرینی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Graduate Record Examination -- Study guides,Universities and colleges -- United states -- Graduate work
رده :
LB
2367
.
4
.
K37
2005
16. Heinle & Heinle,s complete guide to the TOEFL test, CBT ed
پدیدآورنده : / Bruce Rogers,Portion of Title: Complete guide to the TOEFL test.
کتابخانه: کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه بین المللی امام رضا علیه السلام (خراسان رضوی)
موضوع : English language--Textbooks for foreign speakers,Test of English as a foreign language--Study guides,English language--Examinations--Study guides
رده :
PE1128
.
R63
2001
17. #2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
پدیدآورنده : #sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee , edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Semiconductors- Defects- Congresses
رده :
#
QC
،#.
D4
,
I54
،#
2000
18. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدیدآورنده : sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
19. IEEE standard Tests access port and boundary-scan architecture
پدیدآورنده : sponsor test technology standards committee of the IEEE computer society
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : Testing Data processing ، Electronic circuits,، Computer architecture,، Boundary scan testing
رده :
TK
7867
.
E54
2001
20. IEEE standard for parametric data log format
پدیدآورنده : / sponsor, IEEE Standards Coordinating Committee 20 on Test and Diagnosis for Electric Systems
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Electric power systems , Testing , Standards
رده :
E-BOOK