1. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه امام رضا (ع) (آستان قدس رضوی ع) (خراسان جنوبی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
2. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه حسين بن موسی الكاظم (ع) (آستان قدس رضوی ع) (یزد)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
3. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه حسينيه امام رضا (ع) (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
4. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه آيت الله شهيد مدرس (ره) (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
5. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه شيخ عباس تربتی (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
6. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه امام صادق (ع) (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
7. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه مسجد الرضا (ع) (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
8. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه شيخ مجتبی قزوينی (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
9. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه مروج (آستان قدس رضوی ع) (یزد)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
10. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه مسجد قبا (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
11. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - تالار قفسه باز آقايان (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
12. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - تالار قفسه باز بانوان (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
13. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - گردش و امانت بانوان (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
14. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه حاج شيخ هاشم قزوينی (آستان قدس رضوی ع) (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
15. مبانی مترولوژی (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک و عدم قطعیت اندازهگیری)
پدیدآورنده : دسیلوا، جی. ام. اس.
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - گردش و امانت آقايان (خراسان رضوی)
موضوع : ابزار اندازهگیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
۵۳۰
/
۸
د
۵۶۸
م
16. مبانی مترولوژی: (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک، عدم قطعیت اندازه گیری)
پدیدآورنده : د سیلوا، جی. ام. اس De Silva, G. M. S .
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ابزار اندازهگیری-- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر-- مدیریت
رده :
QC
100
.
5
.
D4919