1. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
2. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
3. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987