1. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد سازمان پژوهشهای علمی و صنعتی ایران (تهران)

موضوع : $AIntegrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,$AExpert systems )Computer science(,$AArtificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1987

2. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)

موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence

3. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1986

4. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)

موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence

رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987