1. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Digital integrated circuits-- Testing,Digital integrated circuits-- Design and construction
رده :
TK
،
7874
،.
A23
،
1990
2. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Digital integrated circuits - Testing,Digital integrated circuits - Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
1990
3. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Digital integrated circuits - Testing,Digital integrated circuits - Design and construction
رده :
TK
7874
.
A23
1990
4. Digital systems testing and testable design
پدیدآورنده : Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع : Digital integrated circuits -- Testing,Digital integrated circuits -- Design and construction
رده :
TK
,
7874
,.
A23
,
1990