شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
۳۰۲۵ پ
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
فارسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
بررسی تاثیر قطرنانوسیم‌های کبالت و نحوه رشد الکتروشیمیایی آنها بر ریزساختار و خواص مغناطیسی و بررسی رسوب‌دهی تحت میدان مغناطیسی
نام عام مواد
[پایان‌نامه]
نام نخستين پديدآور
/لیلا آبادی
وضعیت نشر و پخش و غیره
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: مهندسی مواد
تاریخ نشرو بخش و غیره
، ۱۳۹۶
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
۱۰۰ ص
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
چاپی - الکترونیکی
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
کتابنامه در آخر پایان نامه
یادداشتهای مربوط به پایان نامه ها
جزئيات پايان نامه و نوع درجه آن
کارشناسی ارشد
نظم درجات
نانومواد
زمان اعطا مدرک
۱۳۹۶/۰۳/۰۰
کسي که مدرک را اعطا کرده
صنعتی سهند
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
رس‍ـوب‌ده‍ـی الکتروش‍ـیمیایی یک‍ـی از روش‌های مه‍ـم جه‍ـت ایج‍ــاد نانوسیم‌ها در داخل تمپلیت اکسید آندی آلومینیوم (AAO) بوده است .در بخش اول این پژوهش تاثیر تغییرات ولتاژ در الکترولیت‌های اسید سولفوریک، اگزالیک و فسفریک بر روی تغییرات قطر و همچنین تاثیر افزایش زمان آندازینگ دوم بر روی ضخامت لایه اکسیدی تمپلیت‌های اکسید آلومینیوم بررسی شده است .در بخش دوم رسوب‌دهی الکتروشیمیایی آرایه نانوسیم‌های کبال‍ـت خ‍ـالص در حضور و عدم حضور میدان مغناطیسی خارجی در داخل تمپلیت AAO بررس‍ـی شده است .که در این راس‍ـتا در مرحل‍ـه اول تمپلیت مورد نظر تولید شده و سپس تاثیر نیروهای خارجی مغناطیسی بر روی رسوب‌دهی برای اولین بار مورد مطالع‍ـه قرار گرفته است .خواص و مشخصات محصولات به دست آمده توسط آزمایشاتXRD ، نمودارهای جریان-زمان، اندازه‌گیری حلقه پسماند و میکروسکوپ FESEM بررسی شد .نتایج پژوهش نشان می‌دهد که با افزایش ولتاژ و به طبع آن افزایش دانسیته جریان فزایش قطر حفره‌ها از ۲۴ نانومتر در اسید سولفوریک به ۳۴۰ نانومتر در اسید فسفریک رسیده است، مطابق با تصاویر بدست آمده از میکروسکوپ FESEM مشخص گردید که با افزایش زمان آندازینگ دوم ضخامت لایه اکسیدی افزایش یافته است .همچنین با رسوب‌دهی نانوسیم‌های کبالت در حضور و عدم حضور میدان مغناطیسی خارجی مشخص شد که در حضور میدان مغناطیسی به دلیل پدیده همرفت نیروهای لورنتس ایجاد شده و اثر هیدرودینامیک مغناطیسی زمان رسوب‌دهی کاهش می‌یابد .با توجه به نتایج بدست آمده در حضور میدان مغناطیسی خارجی، کاهش شدت پیک( ۰۰۲) نشان‌دهنده چرخش و جهت‌گیری کریستالی نانوسیم‌های کبالت از راستای عمود به محور نانوسیم‌ها به راستای موازی با آن می‌باشد .با توجه به نتایج مربوط به آزمایش‌های مغناطیسی شامل اندازه‌گیری حلقه پسماند مشاهده شد که نانوسیم‌ه‍ـای م‍ـورد نظـر دارای محور آسان مغناطش در جهت عمود بر محور سیم یا راستای محور c شبکه کریستالی هگزاگون‍ـال هستند
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
میدان مغناطیسی
موضوع مستند نشده
رسوب دهی الکتروشیمیایی متناوب
موضوع مستند نشده
قطر تمپلیت
موضوع مستند نشده
کبالت
موضوع مستند نشده
نانوسیم
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
آبادی، لیلا
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
نصیرپوری، فرزاد، استاد راهنما
مبدا اصلی
کشور
ایران
تاريخ عمليات
20230912
شماره دستیابی
شماره بازیابی
مواد،۷۰۵۰۱،۱۳۹۶
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
ی‌سیطانغم ن‌ادیم تحت ی‌هدب‌وسر ی‌سررب و ی‌سیطانغم ص‌اوخ و راتخاسزیر رب اهنآ ی‌یایمیشورتکلا دشر ه‌وحن و ت‌لابک ی‌اهم‌یسونانرطق ریثات ی‌سررب.pdf
شماره دسترسي
عادی
اطلاعات مختصر
عادی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
3025.pdf
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
p70501.pdf
بيت در ثانيه
0
ارتباط براي تسهيلات دسترسي
ایمانی
نوع فرمت الکترونيکي
متن
اندازه فايل
0
شماره کنترل رکورد
پ ۳۰۲۵
يادداشت عمومي
فارسی
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
نمایه‌سازی قبلی
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
pe
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
TF
کد کاربرگه
92029
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
