نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
پدید آورنده
/ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
موضوع
ELECTRONIC& ARCHITECTURE|ENGINEERING, ELECTRICAL &COMPUTER SCIENCE, HARDWARE
رده
E-BOOK
کتابخانه
کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند
محل استقرار
استان:
آذربایجان شرقی
ـ شهر:
سهند
تماس با کتابخانه :
04133443834
شابک
شابک
9789048196449
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
EN-34912
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
وضعیت نشر و پخش و غیره
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2013.
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Electronic
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
ELECTRONIC& ARCHITECTURE|ENGINEERING, ELECTRICAL &COMPUTER SCIENCE, HARDWARE
رده بندی کنگره
شماره رده
E-BOOK
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Smita Krishnaswamy
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
شماره دسترسي
محرمانه
اطلاعات مختصر
محرمانه
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
294148.pdf
نوع فرمت الکترونيکي
متن
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد