شابک
شابک
0471739065 (acid-free paper)
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
EN-50779
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Semiconductor material and device characterization
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ Dieter K. Schroder
وضعیت ویراست
وضعيت ويراست
3rd ed.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
[Piscataway, NJ]
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: IEEE Press ; Hoboken, N.J. : Wiley,
تاریخ نشرو بخش و غیره
, c2006.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xv, 779 p. , ill. , 25 cm.
يادداشت کلی
متن يادداشت
"Wiley-Interscience."
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Electronic
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Semiconductors
موضوع مستند نشده
Semiconductors , Testing
رده بندی کنگره
شماره رده
E-BOOK
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Schroder, Dieter K.
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
0471739065.pdf
شماره دسترسي
عادی
اطلاعات مختصر
عادی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
0471739065.pdf
نوع فرمت الکترونيکي
متن
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
