یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
The MOS Structure -- The MOS Oxide and Its Defects -- Review of Transport Mechanism in Thin Oxides of MOS Devices -- Experimental Techniques -- Theoretical Approaches of Mobile Ions Density Distribution Determination -- Theoretical Model of Mobile Ions Distribution and Ionic Current in the MOS Oxide.
فروست (داده ارتباطی)
عنوان
Engineering materials
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Metal oxide semiconductors
موضوع مستند نشده
Electrical engineering
رده بندی ديویی
شماره
621
.
3815
.
2
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7871
.
99
نشانه اثر
.
M44
,
B46
2011
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )