عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7874.654 .T48 2008
TK7874
.
654
.
T48
2008
کتابخانه
محل استقرار
استان: آذربایجان شرقی ـ شهر: سهند
شابک
شابک
9780863417450
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
10113
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
:the system on chip approach
نام ساير پديدآوران
/ edited by Yichuang Sun
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
London
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Institution of Engineering and Technology
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2008.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xx, 389 p. , ill
فروست
عنوان فروست
(Circuits, devices and systems series
مشخصه جلد
; 19.)
يادداشت کلی
متن يادداشت
Language: انگلیسی
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Print - Electronic
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
فروست (داده ارتباطی)
عنوان
IET circuits, devices and systems series
شماره جلد
19
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Linear integrated circuits - Testing
موضوع مستند نشده
Mixed signal circuits - Testing
موضوع مستند نشده
Radio frequency integrated circuits - Testing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7874
.
654
نشانه اثر
.
T48
2008
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Sun, Yichuang.، Editor
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Institution of Engineering and Technology
مبدا اصلی
کشور
ایران
دسترسی و محل الکترونیکی
نام ميزبان
9780863417450
شماره دسترسي
عادی
اطلاعات مختصر
عادی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
10113.pdf
بيت در ثانيه
4497464
ارتباط براي تسهيلات دسترسي
مختارزاده
درگاه
9780863417450.jpg
نوع فرمت الکترونيکي
متن
اندازه فايل
34746
شماره کنترل رکورد
10113
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
pe
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
