عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QC10 .J1I421 1998
QC10
.
J1I421
1998
کتابخانه
محل استقرار
استان: آذربایجان شرقی ـ شهر: سهند
شابک
ويژگيها
(V.1)
شابک
390845039
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
4441
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Beam injection assessment of defects in semiconductors
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ edited by M. Kittler...(et al)
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Enfield
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Trans Tech Publications
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 1998.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
XIV, 537P
ساير جزييات
: Illus, Diag, Table
يادداشت کلی
متن يادداشت
Language: انگلیسی
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
Print
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Semiconductors- Defects- Congresses
موضوع مستند نشده
Semiconductors- Defects- Testing
رده بندی کنگره
شماره رده
QC10
نشانه اثر
.
J1I421
1998
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
International Workshop on Beam Assessment of Defects in Semiconductors (5th: 1998: Wulkow: Germany)
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Kittler, M، editor
مبدا اصلی
کشور
ایران
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
p
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
