نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
An artificial intelligence approach to test generation
پدید آورنده
Singh, Narinder, 6591-
موضوع
، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده
TK
7874
.
S533
کتابخانه
كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
88881052
-
88881042
-
021
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
An artificial intelligence approach to test generation
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1987
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 193 p. : ill. ; 25 cm
فروست
ساير اطلاعات عنواني
The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 91
يادداشت کلی
متن يادداشت
Bibliography: p. ]189[-193.
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
by Narinder Singh
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
متن يادداشت
2
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing
عنصر شناسه ای
، Expert systems )Computer science(
عنصر شناسه ای
، Artificial intelligence
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
S533
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Singh, Narinder, 6591-
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
TI
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد