عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7874.75
TK7874
.
75
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
9789811324932
شابک
9789811324949
شابک
9789811347849
شابک
981132493X
شابک
9811324948
شابک
9811347840
شابک اشتباه
9789811324925
شابک اشتباه
9811324921
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits /
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Singapore :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
[2019].
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (xi, 156 pages) :
ساير جزييات
illustrations (some color)
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Chapter 1. Background and Review of Crosstalk Delay Fault Models and the Crosstalk Effects -- Chapter 2. Review of Test Generation Techniques for Crosstalk Delay Faults -- Chapter 3. An Automatic Test Pattern Generation Method for Crosstalk Delay Faults Using Modified PODEM and FAN Algorithm -- Chapter 4. An Automatic Test Pattern Generation Method for Crosstalk Delay Faults using Single-Objective Genetic Algorithm -- Chapter 5. An Automatic Test Pattern Generation Method for Crosstalk Delay Faults Using Single-Objective Particle Swarm Optimization -- Chapter 6. Simulation of Asynchronous Sequential Circuits using Fuzzy Delay Model -- Chapter 7. Simulation Based Test Generation for Crosstalk Delay Faults in Asynchronous Sequential Circuits.
بدون عنوان
0
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.
یادداشتهای مربوط به سفارشات
منبع سفارش / آدرس اشتراک
Springer Nature
شماره انبار
com.springer.onix.9789811324932
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9789811324925
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Crosstalk.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.
موضوع مستند نشده
Circuits and Systems.
موضوع مستند نشده
Control Structures and Microprogramming.
موضوع مستند نشده
Logic Design.
موضوع مستند نشده
Performance and Reliability.
موضوع مستند نشده
Algorithms & data structures.
موضوع مستند نشده
Circuits & components.
موضوع مستند نشده
Computer architecture & logic design.
موضوع مستند نشده
Crosstalk.
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.
موضوع مستند نشده
Systems analysis & design.
موضوع مستند نشده
TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
TEC-- 009070
موضوع مستند نشده
TJFC
موضوع مستند نشده
TJFC
رده بندی ديویی
شماره
621
.
39/5
ويراست
23
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7874
.
75
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Jayanthy, S.
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Bhuvaneswari, M. C.
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20200823235446.0
قواعد فهرست نويسي ( بخش توصيفي )
pn
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
