from single charge detection to device characterization /
نام نخستين پديدآور
Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Cham, Switzerland :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
[2018]
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (XXIV, 521 pages) :
ساير جزييات
234 illustrations, 194 illustrations in color
فروست
عنوان فروست
Springer Series in Surface Sciences,
مشخصه جلد
65
شاپا ي ISSN فروست
0931-5195 ;
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Part I: Technical aspects -- Experimental technique and working modes -- Dissipation KPFM -- KPFM techniques for liquid environment -- Open-loop and excitation KPFM -- Quantitative KPFM on semiconductor devices -- KPFM with atomic resolution.- KPFM with atomic resolution -- Part II: Theoretical Aspects -- Local dipoles in atomic and Kelvin probe force microscopy -- Influence of the tip electrostatic field on high resolution KPFM measurements -- Modelling the electrostatic field of a cantilever -- Theory of open-loop KPFM -- KPFM in a SPM simulator -- Electrostatic interactions with dielectric samples -- Part III: Applications -- Kelvin spectroscopy of single molecules -- KPFM for single molecule chemistry -- Optoelectronic properties of single molecules -- Quantitative KPFM of molecular self-assemblies -- Applications of KPFM in liquids -- KPFM of organic solar cell materials -- Correlation of optical and electrical nanoscale properties of organic devices -- KPFM for catalysis -- Quantitative electrical measurements of SiC devices.
بدون عنوان
0
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics. In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume "Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces," presents new and complementary topics. It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
یادداشتهای مربوط به سفارشات
منبع سفارش / آدرس اشتراک
Springer Nature
شماره انبار
com.springer.onix.9783319756875
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
عنوان
Kelvin probe force microscopy.
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9783319756868
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Atomic force microscopy.
موضوع مستند نشده
Electrostatics-- Measurement.
موضوع مستند نشده
Scanning probe microscopy.
موضوع مستند نشده
Materials science.
موضوع مستند نشده
Materials science.
موضوع مستند نشده
Measurement.
موضوع مستند نشده
Mensuration & systems of measurement.
موضوع مستند نشده
Microscopy.
موضوع مستند نشده
Nanotechnology.
موضوع مستند نشده
Physical measurements.
موضوع مستند نشده
Physics.
موضوع مستند نشده
Precision instruments manufacture.
موضوع مستند نشده
SCIENCE-- General.
موضوع مستند نشده
Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.