عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
QD96.S43 E358 1986
QD96
.
S43
E358
1986
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
3642827241
شابک
9783642827242
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b574336
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Secondary ion mass spectrometry :
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985
نام نخستين پديدآور
editors, A. Benninghoven [and others].
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Berlin ; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer-Verlag
تاریخ نشرو بخش و غیره
©1986.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
(xxi, 561 pages) : illustrations
فروست
عنوان فروست
Springer series in chemical physics, 44.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
I Retrospective --; II Fundamentals --; III Symposium: Detection of Sputtered Neutrals --; IV Detection Limits and Quantification --; V Instrumentation --; VI Techniques Closely Related to SIMS --; VII Combined Techniques and Surface Studies --; VIII Ion Microscopy and Image Analysis --; IX Depth Profiling and Semiconductor Applications --; X Metallurgical Applications --; XI Biological Applications --; XII Geological Applications --; XIII Symposium: Particle-Induced Emission from Organics --; XIV Organic Applications Including Fast Atom Bombardment Mass Spectrometry --; Index of Contributors.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Secondary ion mass spectrometry -- Congresses.
موضوع مستند نشده
Secondary ion mass spectrometry.
رده بندی کنگره
شماره رده
QD96
.
S43
نشانه اثر
E358
1986
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
editors, A. Benninghoven [and others].
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
A Benninghoven
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
