Fundamental principles of engineering nanometrology /
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
Richard Leach
وضعیت ویراست
وضعيت ويراست
Second edition
وضعيت ويراست
Second edition
وضعيت ويراست
Second edition
وضعيت ويراست
Second edition
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (384 pages).
فروست
عنوان فروست
Micro & nano technologies series
يادداشت کلی
متن يادداشت
Description based upon print version of record
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
Working at the nano-scale demands an understanding of the high-precision measurement techniques that make nanotechnology and advanced manufacturing possible. This new edition of Fundamental Principles of Engineering Nanometrology provides a road map and toolkit for metrologists engaging with the rigor of measurement and data analysis at the nano-scale, from the fundamentals of precision measurement, to different measurement and characterization techniques. This book is an essential guide for the emerging nanomanufacturing and nanofabrication sectors, where measurement and standardiza
یادداشتهای مربوط به سفارشات
منبع سفارش / آدرس اشتراک
Safari Books Online
شماره انبار
CL0500000450
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
عنوان
Fundamental Principles of Engineering Nanometrology.
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9781455777501
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Metrology.
موضوع مستند نشده
Microtechnology.
موضوع مستند نشده
Nanotechnology.
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
TEC-- 009000
موضوع مستند نشده
TEC-- 035000
رده بندی ديویی
شماره
620
.
50287
شماره
621
.
381
ويراست
23
ويراست
22
رده بندی کنگره
شماره رده
T174
.
7
نشانه اثر
.
L43
2014eb
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )