عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7895.E42 S978 2008
TK7895
.
E42
S978
2008
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
012373973X
شابک
9780123739735
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b425487
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
System-on-chip test architectures
نام عام مواد
[Book]
ساير اطلاعات عنواني
nanometer design for testability /
نام نخستين پديدآور
edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Morgan Kaufmann Publishers,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2008
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxxvi, 856 p. :
ساير جزييات
ill. ;
ابعاد
25 cm
فروست
عنوان فروست
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به تکثیر
متن يادداشت
Available to subscribing institutions.
یادداشتهای مربوط به سفارشات
منبع سفارش / آدرس اشتراک
Safari Books Online
شماره انبار
CL0500000047
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9780080556802
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design
موضوع مستند نشده
Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
موضوع مستند نشده
Systems on a chip-- Testing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7895
.
E42
نشانه اثر
S978
2008
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Stroud, Charles E
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Touba, Nur A
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Wang, Laung-Terng
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Ohio Library and Information Network
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20090901205851.0
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
