عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
E-Book ,
E-Book
,
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
:9781402083624
شماره کتابشناسی ملی
شماره
42357
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
نام عام مواد
[Electronic book]
ساير اطلاعات عنواني
: Process-Aware SRAM Design and Test
نام نخستين پديدآور
\ Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
[Dordrecht]
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Springer
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 2008
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xvi, 193 p
ساير جزييات
:ill
فروست
عنوان فروست
Frontiers in electronic testing
مشخصه جلد
; 40
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Index
متن يادداشت
Bibliography
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design.
موضوع مستند نشده
Random access memory.
موضوع مستند نشده
نیمه هادی‌های اکسید فلزی مکمل -- طراحی
موضوع مستند نشده
حافظه دسترسی تصادفی
رده بندی کنگره
شماره رکورد غير از شماره رده بندي
E-Book
,
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Pavlov, Andrei
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Sachdev, Manoj
دسترسی و محل الکترونیکی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
9781402083624.pdf
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
کد کاربرگه
278840
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
