نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
پدید آورنده
Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moises Padilla
موضوع
، Diffraction patterns--Data processing,، Image processing--Data processing
رده
QC
415
.
F88
2014
کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
46831570
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
electronic
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Weinheim, Germany
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
تاریخ نشرو بخش و غیره
2014
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moises Padilla
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Diffraction patterns--Data processing
عنصر شناسه ای
، Image processing--Data processing
رده بندی کنگره
شماره رده
QC
415
.
F88
2014
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Servin, Manuel
عنصر شناسه اي
AU Padilla, J. Moises
عنصر شناسه اي
AU Quiroga, J. Antonio
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد