نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies :process-aware SRAM design and test
پدید آورنده
Pavlov, Andrei
موضوع
Design ، Metal oxide semiconductors, Complementary,، Random access memory,، Nanoelectronics
رده
TK
7871
.
99
.
M44P38
2008
کتابخانه
کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
46831570
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
electronic
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Pavlov, Andrei
عنوان اصلي
CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies :process-aware SRAM design and test
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
]Dordrecht[
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2008
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xvi, 193 p. : ill. ; 25 cm.
فروست
عنوان فروست
Frontiers in electronic testing ;04
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Andrei Pavlov, Manoj Sachdev
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Design ، Metal oxide semiconductors, Complementary
عنصر شناسه ای
، Random access memory
عنصر شناسه ای
، Nanoelectronics
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
99
.
M44P38
2008
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Sachdev, Manoj
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد