Recent developments in thin film research :epitaxial growth and nanostructures, electron microscopy, and x-ray diffraction : proceedings of Symposium B on Epitaxial Thin Film Growth and Nanostructures and proceedings of Symposium C on Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures of the 1997 ICAM/E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 16-20, 1997
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Amsterdam ; New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Elsevier
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1997
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 279, v, 223 p. :ill. ;29 cm
فروست
عنوان فروست
European Materials Research Society symposia proceedings
شاپا ي ISSN فروست
69
يادداشت کلی
متن يادداشت
"Reprinted from Thin solid films, vol. 318 )1-2( and Thin solid films, vol. 319 )1-2("--T.p. verso.
متن يادداشت
Includes bibliographical references and indexes.
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
]G. Ritter ... et al., editors[
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Thin films
عنصر شناسه ای
، Epitaxy
عنصر شناسه ای
، Nanostructured materials
عنصر شناسه ای
، Electron microscopy
عنصر شناسه ای
Diffraction ، X-rays
رده بندی کنگره
شماره رده
TA
418
.
9
.
T45
S94
1997
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU .G ,rettiR ed.
عنصر شناسه اي
CO Symposium C on Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures)7991 :Strasbourg, France(
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
SE
شناسه افزوده (تنالگان)
عنصر شناسه اي
Symposium B on Epitaxial Thin Film Growth and Nanostructures)1997 : Strasbourg, France(