نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty
پدید آورنده
Bahukudumbi, Sudarshan.
موضوع
Integrated circuits, Testing,Integrated circuits, Wafer-scale integration,Semiconductors, Testing
رده
TK
7874
.
B22W3
2010
کتابخانه
کتابخانه و مرکز اطلاع رسانی آیت الله ایمانی دانشگاه سلمان فارسی
محل استقرار
استان:
فارس
ـ شهر:
كازرون
تماس با کتابخانه :
42226051
-
071
شابک
شابک
9781596939899
شابک
9781596939899
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
1282
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Artech House,
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2010
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xv, 198 p. , ill. , 24 cm.
يادداشت کلی
متن يادداشت
Title
یادداشتهای مربوط به نسخه موجود
متن يادداشت
000
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
عنوان قراردادی
عنوان قراردادي
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Integrated circuits, Testing
عنصر شناسه ای
Integrated circuits, Wafer-scale integration
عنصر شناسه ای
Semiconductors, Testing
رده بندی ديویی
شماره
621
ويراست
B34W
نشانه اثر
.
3815
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
نشانه اثر
7874
شماره رکورد رده بندي
.
B22W3
شماره رکورد غير از شماره رده بندي
2010
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Bahukudumbi, Sudarshan.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
عنصر شناسه اي
Chakrabarty, Krishnendu.
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
1
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
English Book
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
غیرمرجع
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد