نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدید آورنده
sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
موضوع
Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده
TK
7871
.
99
.
M44
2000
کتابخانه
کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد
محل استقرار
استان:
خراسان رضوی
ـ شهر:
مشهد
تماس با کتابخانه :
05138806503
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
22935
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Washington
نام ناشر، پخش کننده و غيره
IEEE Computer Society
تاریخ نشرو بخش و غیره
c2000
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
ix, 82p.: ill
يادداشت کلی
متن يادداشت
"The workshop has been renamed from 'Iddq Testing' to 'DBT" - P. vii
متن يادداشت
"IEEE Computer Society Order Number PR00637" - T.p. verso
متن يادداشت
"IEEE order plan catalog number PR00637" - T.p. verso
متن يادداشت
Online version also available to IEEE Xplore subscribers
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary
عنصر شناسه ای
Congresses ، Iddq testing
عنصر شناسه ای
Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
99
.
M44
2000
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Malaiya, Yashwant K.
عنصر شناسه اي
AU Sachdev, Manoj
عنصر شناسه اي
AU Menon, Sankaran M.
عنصر شناسه اي
TI
شناسه افزوده (تنالگان)
عنصر شناسه اي
IEEE International Workshop on Defect Based Testing )2000: Montreal(
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
CL
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد