نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
VLSI testing
پدید آورنده
edited by T.W. Williams
موضوع
Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده
TK
7874
.
V5666
1986
کتابخانه
کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد
محل استقرار
استان:
خراسان رضوی
ـ شهر:
مشهد
تماس با کتابخانه :
05138806503
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
16603
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
VLSI testing
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Amsterdam; New York
محل نشرو پخش و غیره
New York, N.Y., U.S.A.
نام ناشر، پخش کننده و غيره
North-Holland Pub. Co.
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science Pub. Co.
تاریخ نشرو بخش و غیره
1986
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
ix, 275p.:ill
فروست
عنوان فروست
Advances on CAD for VLSI; v.5
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographies
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
edited by T.W. Williams
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
V5666
1986
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU Williams, T.W. 1943-
عنصر شناسه اي
SE
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
CL
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد