نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Reliability and degradation
پدید آورنده
edited by M.J. Howes D.V. Morgan
موضوع
Semiconductors - Reliability
رده
TK
7871
.
85
.
R44
1981
کتابخانه
کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد
محل استقرار
استان:
خراسان رضوی
ـ شهر:
مشهد
تماس با کتابخانه :
05138806503
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
7099
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Reliability and degradation
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Chichester, New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Wiley
تاریخ نشرو بخش و غیره
1981
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 444p.:ill
فروست
عنوان فروست
The Wiley series in solid state devices and circuits
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
edited by M.J. Howes D.V. Morgan
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Semiconductors - Reliability
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
85
.
R44
1981
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
TI Howes, M.J
عنصر شناسه اي
AU Morgan, D.V
عنصر شناسه اي
SE
شماره دستیابی
پسوند شماره بازيابي
CL
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد