نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Unified methods for VLSI simulation and test generation
پدید آورنده
Cheng, Kwang- Ting, 1691-
موضوع
، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Computer- aided design,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
رده
کتابخانه
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
9
-
88079401
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
4704
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Cheng, Kwang- Ting, 1691-
عنوان اصلي
Unified methods for VLSI simulation and test generation
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1989
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 148 p. :ill. ;24 cm
فروست
عنوان فروست
The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 37
يادداشت کلی
متن يادداشت
At head of title: AT&T
متن يادداشت
Includes index
متن يادداشت
Bibliography: p. ]113[- 143
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing
عنصر شناسه ای
، Computer- aided design
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
رده بندی ديویی
شماره
621
.
39/5
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
C525
1989
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
by Kwang- Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU -3491 ,.D inawhsiV ,lawargA
عنصر شناسه اي
TI
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد