نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Testing and reliable design of CMOS circuits
پدید آورنده
Jha, Niraj K.
موضوع
، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
رده
کتابخانه
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
9
-
88079401
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
4694
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Jha, Niraj K.
عنوان اصلي
Testing and reliable design of CMOS circuits
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1990
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 231 p. :ill. ;25 cm
فروست
عنوان فروست
Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 88.
شاپا ي ISSN فروست
VLSI, computer architecture, and digital signal processing
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing
عنصر شناسه ای
، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
رده بندی ديویی
شماره
621
.
39/732
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7871
.
99
.
M44J49
1990
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
by Niraj K. Jha. and Sandip Kundu
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU .pidnaS ,udnuK
عنصر شناسه اي
TI
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد