نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation
پدید آورنده
موضوع
، Integrated circuits- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Reliability- Congresses,، Non- destructive testing- Congresses
رده
کتابخانه
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
9
-
88079401
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
7086
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Park Ridge, N.J., U.S.A.
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Noyes Data Corp.
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1988
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 128 p. :ill. ;27 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
"The Electronics Reliability and Measurement Technology Workshop was held in June 1986 at NASA Langley Research Center"- - P. vii
متن يادداشت
Includes bibliographies and index.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Testing- Congresses
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits- Reliability- Congresses
عنصر شناسه ای
، Non- destructive testing- Congresses
رده بندی ديویی
شماره
621
.
381/028/7
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
E486
1988
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
عنصر شناسه اي
edited by Joseph S. Heyman
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU .S hpesoJ ,namyeH
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد