نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Proceedings
پدید آورنده
International Test Conference
موضوع
، Computer storage devices-- Congresses,، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses
رده
TK
7874
.
I474
کتابخانه
كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
66005817
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
109770
شماره استاندارد
114766
شماره استاندارد
115641
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
پائیز۷۷
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
نام عام مواد
)50-91(
نام نخستين پديدآور
International Test Conference
عنوان اصلي
Proceedings
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Silver Spring, Md.
نام ناشر، پخش کننده و غيره
IEEE Computer Society Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1983-
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
v. : ill. ; 28 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Annual
متن يادداشت
Some conferences also have distinctive titles
متن يادداشت
Published: Altoona, PA: International Test Conference, )1995-(
متن يادداشت
Sponsored by the IEEE Computer Society, Test Technology Committee, and the IEEE, Philadelphia Section
متن يادداشت
Cover title: IEEE ... Test Conference 1983-1986
متن يادداشت
Cover title: IEEE International Test Conference 1987-
متن يادداشت
Continues:International Test Conference. Digest of papers, ISSN 0743-1686
متن يادداشت
ISSN 1089-3539= Proceedings- International Test Conference
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
، Computer storage devices-- Congresses
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits-- Testing-- Congresses
عنصر شناسه ای
، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
I474
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
AU
عنصر شناسه اي
International Test Conference
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
CO IEEE Computer Society. Test Technology Committee
عنصر شناسه اي
CO Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
عنصر شناسه اي
TI
عنصر شناسه اي
TI IEEE... Test Conference
عنصر شناسه اي
TI IEEE International Test Conference
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
129
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
05
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
129
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد