نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Digital systems testing and testable design
پدید آورنده
Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
موضوع
Digital integrated circuits - Testing,Digital integrated circuits - Design and construction
رده
TK
7874
.
A23
1990
کتابخانه
کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
82089801
-
021
شابک
شابک
0716781794
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
لاتين
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
نام ساير پديدآوران
author
عنوان اصلي
Digital systems testing and testable design
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York, NY
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Computer Science Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
1990
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxi, 653 p. : ill. ; 25 cm
فروست
عنوان فروست
Electrical engineering communications and signal processing series
عنوان فروست
Electrical engineering, communications, and signal processing
یادداشتهای مربوط به بسته بندی و دسترس بودن اثر
متن يادداشت
مرجع به حساب نمي آيد
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references (p. 644-645) and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Digital integrated circuits - Testing
عنصر شناسه ای
Digital integrated circuits - Design and construction
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
A23
1990
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
مولف
کد نقش
Abramovici, Miron.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
عنصر شناسه اي
Friedman, Arthur D.
عنصر شناسه اي
Breuer, Melvin A.
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد