عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .N385 1991
TK
7874
.
N385
1991
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0442002211
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
لاتين
عنوان و نام پديدآور
نام نخستين پديدآور
Wayne Maurice Needham
نام ساير پديدآوران
author
عنوان اصلي به قلم نويسنده ديگر
1949-
عنوان اصلي
Designer's guide to testable ASIC devices
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Van Nostrand Reinhold
تاریخ نشرو بخش و غیره
1991
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xiv, 284 p. : ill. ; 24 cm
یادداشتهای مربوط به بسته بندی و دسترس بودن اثر
متن يادداشت
مرجع به حساب نمي آيد
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references (p. 277-279) and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Application specific integrated circuits - Testing
عنصر شناسه ای
Application specific integrated circuits - Design and construction
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
N385
1991
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
مولف
کد نقش
Needham, Wayne Maurice
