نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Semiconductor devices measurements and tests
پدید آورنده
/G.Grin
موضوع
نیمه هادیها
رده
TK
۷۸۷۱
/
۸۵
/
گ
۴
س
۸ ۱۳۵۹
کتابخانه
سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
88644104
-
021
شماره کتابشناسی ملی
شماره
۱۷۹۵۴۶۲
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Semiconductor devices measurements and tests
نام نخستين پديدآور
/G.Grin
نام ساير پديدآوران
; translated from the russian by Alexander Repyev.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Moscow
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Mir publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
=1359.
مشخصات ظاهری
ساير جزييات
[۲۰۸]ص.
ابعاد
: مصور، جدول، نمودار.
يادداشت کلی
متن يادداشت
انگلیسی.
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
کتابنامه:ص[۲۰۸].
متن يادداشت
نمایه.
آوانویسی عنوان
آوانویسی عنوان
سمیکانداکتور...
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
نیمه هادیها
رده بندی ديویی
شماره
۶۲۱
/
۳۸۱۵۲
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
۷۸۷۱
/
۸۵
نشانه اثر
/
گ
۴
س
۸ ۱۳۵۹
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
گرین، جی.
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Grin, G.
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Repyev, Alexander، مترجم
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
برون سپاری در دست مستند سازی
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد