ما بقی فیلدها | ،،،،1،1،6،0769506372،GN141807،GN،01/04/1381،000 | |||||||||||
شناسگر رکورد | GN141807 | |||||||||||
شناسگر ويراست | #50399 | |||||||||||
اطلاعات محلی رکورد | #BL | |||||||||||
زبان اثر | انگلیسی | |||||||||||
عنوان و نام پديدآور | #2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing #sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee , edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon | |||||||||||
وضعیت نشر و پخش و غیره | Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society #c2000 | |||||||||||
مشخصات ظاهری | #82 p.: ill., 28 cm | |||||||||||
یادداشتهای کلی مربوط به اطلاعات توصیفی | #: proceedings April 30, 2000, Montreal, Canada | |||||||||||
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام) | Semiconductors- Defects- Congresses | |||||||||||
رده بندی کنگره |
| |||||||||||
سایر رده بندی ها | #611.6 | |||||||||||
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده | AU،Malaiya, Yashwant K |