1. Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
المؤلف: / Haugstad
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY
رده :
E-BOOK
2. Atomic force microscopy :
المؤلف: Greg Haugstad.
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه تهران (طهران)
موضوع: Atomic force microscopy.
رده :
QH212
.
A78
H38
2012
3. Atomic force microscopy :
المؤلف: Greg Haugstad.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Atomic force microscopy.
رده :
QH212
.
A78
H38
2012