1. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده : by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
رده :
TK
7868
.
L6C44
1991
2. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده : Chakradhar, Srimat T.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Logic circuits- Testing,، Automatic checkout equipment,، Digital integrated circuits- Testing- Data processing
3. Neural models and algorithms for digital testing
پدیدآورنده : by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Logic circuits - Testing,Automatic checkout equipment,Digital integrated circuits - Testing - Data processing
رده :
TK
7868
.
L6C44
1991
