1. IDDQ testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
رده :
TK
7874
.
I3223
1993
2. IDDQ testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکدههای فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
رده :
TK
7874
.
I3223
1993
