1. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
2. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
