عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Digital integrated circuit testing from a quality perspective
پدید آورنده
Hnatek, Eugene R.
موضوع
Testing - Quality control ، Digital integrated circuits
رده
TK
7874
.
H533
1993
کتابخانه
المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان
محل استقرار
استان:
کرمان
ـ شهر:
کرمان
تماس با کتابخانه :
03433257204
English
Digital integrated circuit testing from a quality perspective
New York
Van Nostrand Reinhold
c1993
x, 179 p. : ill. ; 24 cm
Includes bibliographical references and index
Eugene R. Hnatek
1
2
Testing - Quality control ، Digital integrated circuits
TK
7874
.
H533
1993
CA
Hnatek, Eugene R.
AU
TI
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح