عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Test and diagnosis for small-delay defects
پدید آورنده
/ Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
موضوع
Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده
TK7874
.
T4323
2011
کتابخانه
المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر
محل استقرار
استان:
أذربایجان الشرقیة
ـ شهر:
تبریز
تماس با کتابخانه :
04133294120
-
04133294118
9781441982964 (hbk.)
IR
92-67
انگلیسی
IR
Test and diagnosis for small-delay defects
[Book]
/ Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
New York ;London
: Springer,
, 2011.
xviii, 212 p.
: ill. (some col.)
; 24 cm.
Language: انگلیسی
Print
Includes bibliographical references.
Integrated circuits--Very large scale integration--Defects
Integrated circuits--Very large scale integration--Testing
Delay faults (Semiconductors)
TK7874
.
T4323
2011
Tehranipoor, Mohammad H., 1974
Peng, Ke
Chakrabarty, Krishnendu
ایران
old catalog
p
BL
1
a
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح